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超高纯硅粉标准参考物
产品时间：2026-05-06
超高纯硅粉标准参考物主要用于X射线粉末衍射仪（XRD）的校准，是材料科学、半导体和化工等领域晶体结构分析的关键基准。
北京华新康信生物科技有限公司代理NIST品牌。北京华新康信生物科技有限公司是NIST品牌代理商。
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NIST华新康信
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NIST SRM 640g 是美国国家标准与技术研究院（NIST）研制的超高纯硅粉标准参考物质，主要用于X射线粉末衍射仪（XRD）的校准，是材料科学、半导体和化工等领域晶体结构分析的关键基准。
核心参数与用途
主要用途：作为衍射线位置（2θ角）和线形（峰宽）的标准，用于XRD仪器的校准与性能验证。
规格：每瓶约 7.5 g，在氩气环境下封装，防止吸潮和污染。
材料来源：由德国Siltronic AG提供的超高纯度本征硅晶锭制成，经粉碎、喷射研磨至中值粒径 4.1 μm，并在1000℃氩气中退火2小时以消除晶格应力。
认证值：在22.5℃下，晶格参数为 0.5431144 nm ± 0.000008 nm，量值溯源至国际单位制（SI），具有高度准确性和可比性。
均匀性：XRD分析表明材料在衍射特性方面高度均匀，相对晶格变化 ≤ ±4.8×10⁻⁸（95%置信区间）。
使用与储存规范
适用仪器：适配Bragg-Brentano几何结构的XRD设备，可通过基本参数法或Pawley精修进行2θ角及半高宽（FWHM）校准。
储存条件：需在环境温度下保存，未使用部分必须密封于原瓶中，保持氩气防护，避免污染或受潮。
认证有效期：在规定不确定度范围内无限期有效，无需定期重新认证，但若材料被损坏、污染或不当处理，则认证失效。
扩展信息
该标准品还提供信息值，如洛伦兹分布的全宽半最大值（FWHM），用于评估样品引起的展宽效应，对应平均体积加权域尺寸约为 0.4 µm。此外，粒度分布通过激光散射测定，典型中位粒径为4.1 μm。